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高溫環(huán)境試驗(yàn)程序的兩種方式
在國軍標(biāo)和美軍標(biāo)中將裝備的高溫試驗(yàn)分為高溫存儲(chǔ)和高溫工作兩個(gè)程序，這兩個(gè)程序又分為兩種方式：一種是恒定溫度，即在某一規(guī)定的恒定溫度下進(jìn)行試驗(yàn)，如+71℃....
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1、環(huán)境試驗(yàn)的國軍標(biāo)和美軍標(biāo)在國軍標(biāo)和美軍標(biāo)中將裝備的高溫試驗(yàn)分為高溫存儲(chǔ)和高溫工作兩個(gè)程序，這兩個(gè)程序又分為兩種方式：一種是恒定溫度，即在某一規(guī)定的恒定溫度下進(jìn)行試驗(yàn)，如+71℃；另一種是循環(huán)溫度，即在規(guī)定的變化溫度范圍內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)，如按表3-4所示高溫日循環(huán)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
表3-4高溫日循環(huán)
1天中的時(shí)間（h） 氣候類型：基本熱 氣候類型：熱 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 01 33 36 33 36 35 6 35 6 02 32 38 32 38 34 7 34 7 03 32 41 32 41 34 7 34 7 04 31 44 31 44 33 8 33 7 05 30 44 30 44 33 8 33 7 06 30 44 31 43 32 8 33 7 07 31 41 34 32 33 8 36 5 08 34 34 38 30 35 6 40 4 09 37 29 42 23 38 6 44 4 10 39 24 45 17 41 5 51 3 11 41 21 51 14 43 4 56 2 12 42 18 57 8 44 4 63 2 13 43 16 61 6 47 3 69 1 14 43 15 63 6 48 3 70 1 15 43 14 63 5 48 3 71 1 16 43 14 62 6 49 3 70 1 17 43 14 60 6 48 3 67 1 18 42 15 57 6 48 3 63 2 19 40 71 50 10 46 3 55 2 20 38 20 44 14 42 4 48 3 21 36 22 38 19 41 5 41 5 22 35 25 35 25 39 6 39 6 23 34 28 34 28 38 6 37 6 24 34 33 33 33 37 6 35 6 (1)高溫存儲(chǔ)它是用來考核在裝備存儲(chǔ)期間，高溫對(duì)其安全性、完整性和性能的影響。(2)高溫工作它是用來考核在裝備工作期間，高溫對(duì)其性能的影響。(3)高溫存儲(chǔ)和高溫工作的區(qū)別就性能檢測(cè)而言，兩者之間的不同之處是：高溫存儲(chǔ)是在高溫暴露試驗(yàn)之后進(jìn)行性能檢測(cè)，適用于評(píng)價(jià)高溫存儲(chǔ)后對(duì)裝備性能的影響；高溫工作是在高溫暴露試驗(yàn)期間進(jìn)行性能檢測(cè)，適用于評(píng)價(jià)裝備工作期間高溫對(duì)裝備的影響。
高低溫試驗(yàn)箱示意圖
2、環(huán)境試驗(yàn)國標(biāo)和IEC的標(biāo)準(zhǔn)(基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn))高溫試驗(yàn)分為非散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)兩種。非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品的區(qū)別為：當(dāng)箱內(nèi)溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在自由空氣條件下(如低氣流循環(huán))，樣品表面溫度超過周圍空氣5℃以上，稱為散熱樣品。(1)非散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)試驗(yàn)時(shí)，溫度調(diào)節(jié)采用漸變的方式，當(dāng)溫度漸變到規(guī)定的溫度，并在該溫度上穩(wěn)定后，暴露到規(guī)定時(shí)間。該試驗(yàn)通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行，箱內(nèi)空氣循環(huán)通常采用高氣流。高氣流速度循環(huán)是指：為維持設(shè)定條件，箱內(nèi)空氣調(diào)節(jié)速度，導(dǎo)致樣品任一點(diǎn)上由于空氣循環(huán)而降低5℃以上。(2)散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)這種高溫試驗(yàn)又分為兩種試驗(yàn)方式：一種是在溫度調(diào)節(jié)(漸變升溫)過程中樣品不通電，到規(guī)定溫度后才通電，然后在溫度穩(wěn)定后暴露到規(guī)定的時(shí)間。另一種是在整個(gè)試驗(yàn)過程中樣品要求通電的溫度漸變?cè)囼?yàn)。試驗(yàn)時(shí)，樣品放入試驗(yàn)箱后就通電或加電負(fù)載，檢查功能和性能是否符合要求，然后將溫度調(diào)節(jié)(漸變升溫)到規(guī)定的溫度，并在該溫度上穩(wěn)定后，暴露到規(guī)定時(shí)間。
進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的高溫試驗(yàn)時(shí)，箱內(nèi)空氣循環(huán)通常采用低氣流。低氣流速度(如工作低氣流速度不大于0.5m/s )循環(huán)是指：為維持設(shè)定條件，箱內(nèi)空氣調(diào)節(jié)速度，導(dǎo)致樣品任一點(diǎn)上不會(huì)由于空氣循環(huán)而溫度降低5℃以上。
所謂溫度漸變，是指樣品放入箱中，隨箱內(nèi)空氣溫度一起慢慢升高，溫升速度通常不超過1℃/min，防止由于溫度改變對(duì)樣品產(chǎn)生高溫試驗(yàn)不考核的溫度沖擊的影響。3、電子和電氣元件和微電子器件標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電子和電氣元件和微電子器件的高溫試驗(yàn)，通?？煞譃榇鎯?chǔ)試驗(yàn)(不加電應(yīng)力)、壽命試驗(yàn)(加電應(yīng)力)、老練試驗(yàn)、失效率試驗(yàn)四種。(1)存儲(chǔ)試驗(yàn)：在不通電的情況下確定高溫存儲(chǔ)對(duì)其的影響。(2)壽命試驗(yàn)和失效率試驗(yàn)：測(cè)定其壽命和失效率，保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。(3)老煉試驗(yàn)：剔除那些勉強(qiáng)合格的元器件，這些元器件本身具有固有缺陷或因其制造工藝不當(dāng)而產(chǎn)生的缺陷。這些缺陷會(huì)造成使用初期出現(xiàn)致命的失效，或早期壽命失效。
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